一、介紹：溫濕度貯存試驗箱又稱為溫濕度貯存試驗機或恒溫恒濕試驗箱，溫濕度貯存試驗箱用來考核和確定電工電子產(chǎn)品或材料、鋰電池在溫度和濕度的環(huán)境條件下貯存、運輸和使用時的適應(yīng)性。

二、貯存試驗是指在產(chǎn)品的正常貯存期內(nèi)，模擬一種或多種環(huán)境應(yīng)力對產(chǎn)品的影響，溫濕度貯存試驗箱主要是模擬的溫濕度自然環(huán)境氣候的影響，當疲勞積累可能存在時，貯存試驗可以用來確定：
1、貯存是否影響產(chǎn)品在其預定應(yīng)用中的使用，例如：元件引線或印刷電路板的可焊性變壞，電氣參數(shù)的漂移超差，已引起開路或短路；
2、在貯存后使用時，產(chǎn)品的主要性能或可靠性是否降低或兩者都降低；
3、對于應(yīng)急設(shè)備，在長期未使用后，其正確可靠運行的能力是否受到破壞（注：對于比較新的產(chǎn)品或那些長期貯存后的產(chǎn)品的可靠性的確定，以及貯存后運行可靠性的確定，宜參考有關(guān)可靠性和維修性的國家標準）。

三、溫濕度貯存試驗箱滿足的試驗標準：
國際電工委員會標準,IEC68-2-03_試驗方法Ca_穩(wěn)態(tài)濕熱
國際電工委員會標準,IEC68-2-01_試驗方法A_冷
國際電工委員會標準,IEC68-2-02_試驗方法B_干熱

美國軍用標準,MIL-STD-810F-507.4 濕度
美國軍用標準,MIL-STD-810F-501.4 高溫
美國軍用標準,MIL-STD-810F-502.4 低溫
美國軍用標準,MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環(huán)試驗
美國軍用標準,MIL-STD810D方法502.2
美國軍用標準,MIL-STD810方法507.2程序3

日本工業(yè)標準,JIS C60068-2-3-1987 試驗Ca:濕熱、穩(wěn)態(tài)
日本工業(yè)標準,JIS C60068-2-2-1995 試驗B:干熱
日本工業(yè)標準,JIS C60068-2-1-1995 試驗A:低溫

美國半導體行業(yè)標準,JESD22-A101-B-2004 恒定溫濕度試驗
美國半導體行業(yè)標準,JESD22-A103-C-2004 高溫儲存試驗
美國半導體行業(yè)標準,JESD22-A119-2004 低溫儲存試驗

中國國家標準,GB/T 2423.1-2001 低溫
中國國家標準,GB/T 2423.2-2001 高溫
中國國家標準,GB/T 2423.3-1993 恒定濕熱試驗方法
中國國家標準,GB2423.34-86 溫濕度組合循環(huán)試驗
中國國家標準,GB/T2423.4-93方法

四、溫濕度貯存試驗箱規(guī)格參數(shù)：

五、濕度參考圖：

六、冷凍系統(tǒng)：
1. 歐美原裝進口省電型全密閉式工業(yè)用低溫壓縮機。
2. 冷卻方式采用氣冷式,全系列采用環(huán)保冷媒。
3. 原裝進口干燥過濾器,電磁閥等冷凍配備。
4. 冷凝器采用風冷式,附散熱馬達裝置或水冷式盤管。
5. 低溫系統(tǒng)采用二元冷凍回路,降溫速度快。
6. 膨脹系統(tǒng): 毛細管容量控制之冷凍系統(tǒng)。

七、7英寸可編程觸摸屏控制器：
1.采用超大熒幕觸摸式熒幕畫面，熒幕操作簡單，程序編輯容易。
2.控制器操作界面設(shè)中英文可供選擇，實時運轉(zhuǎn)曲線圖可由熒幕顯示。
3.具有100組程序1000段999循環(huán)步驟的容量，每段時間設(shè)定最大值為99小時59分。
4.資料及試驗條件輸入后，控制器具有熒屏鎖定功能，避免人為觸摸而停機。
5.具有P.I.D自動演算功能，可將溫濕度變化條件立即修正，使溫濕度控制更為精確穩(wěn)定。
6.具有RS-232或RS-485通訊界面，可在計算機上設(shè)計程序，監(jiān)視試驗過程并執(zhí)行開關(guān)機等功能。（選配）

八、安裝要求:為了便于箱體的散熱及維修保養(yǎng)，溫濕度貯存試驗箱安裝必須符含下列條件：
1、與相鄰墻壁或其設(shè)備之間的距離，應(yīng)當滿足不低于600MM的范圍。
2、為了有效的發(fā)揮試驗箱的功能、性能、應(yīng)選擇常溫為15-35℃，相對溫度不大于85%RH的場所。
3、安裝場所的環(huán)境溫度切忌不能急劇變化。
4、本設(shè)備應(yīng)安放在水平的地面上工作，運輸過程中切忌不能大于30°的角度。
5、無陽光直射的地方。
6、通風良好的地方，附近應(yīng)有下水道。
7、遠離可燃物，爆炸物及高溫發(fā)熱的地方。
8、灰塵少的地方。
9、盡可能靠近供電電源的地方。