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半導(dǎo)體恒溫恒濕試驗(yàn)箱大多指的是高溫和低溫的溫度交變，也就是溫度轉(zhuǎn)換，科賽德技生產(chǎn)這款恒溫恒濕試驗(yàn)箱，常規(guī)的升溫是每分鐘約3-5度，常規(guī)的降溫則每分鐘約1度，適用于工業(yè)材料、電子零部件、電子產(chǎn)品、光電行業(yè)、LED照明等成品或者半成品在研發(fā)、生產(chǎn)、實(shí)驗(yàn)、試驗(yàn)和檢驗(yàn)各環(huán)節(jié)提供高低溫交變、高低溫恒定、高低溫循環(huán)、復(fù)雜高低溫試驗(yàn)環(huán)境試驗(yàn)，當(dāng)然這款產(chǎn)品適用的行業(yè)非常廣泛，基本上包括了很多I業(yè)行業(yè)與產(chǎn)品，食品行業(yè)較為少用而已。
恒溫恒濕試驗(yàn)箱均是用于試驗(yàn)材料在各種環(huán)境下的性能及試驗(yàn)各種材料耐高溫、耐低溫、耐熱、耐寒、耐溫、耐濕的性能。適合光電、電子、手機(jī)、電器、通訊、儀表、車輛配件、塑膠制品、藥品、金屬、化學(xué)、建材、醫(yī)療、涂料、航天等制品檢測質(zhì)量或研發(fā)新品之用。
半導(dǎo)體恒溫恒濕試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：
| 產(chǎn)品型號(hào) | ?KSD-TH-80L | ?KSD-TH-150L | ?KSD-TH-225L | ?KSD-TH-408L | ?KSD-TH-800L | ?KSD-TH-1000L | |
| 內(nèi)部尺寸W×H×D(cm) | ?40×50×40 | ?50×60×50 | ?50×75×60 | ?60×85×80 | ?100×100×80 | ?100×100×100 | |
| 外部尺寸W×H×D(cm) | ?97×136×97 | ?107×146×107 | ?107×161×117 | ?117×171×127 | ?155×185×130 | ?155×185×147 | |
| 性能 | ?控制方式 | ?平衡調(diào)溫調(diào)濕方式(BTHC)PID智能調(diào)節(jié) | |||||
| ?溫度范圍 | ?0℃～150℃,-20℃～150℃,-40℃～150℃,-60℃～150℃,-70℃～150℃ | ||||||
| ?濕度范圍 | ?20%～98%RH | ||||||
| ?溫濕度均勻度 | ?±2℃,±3%RH | ||||||
| ?溫濕度波動(dòng)度 | ?±0.3℃,±2.5%RH | ||||||
| ?升溫速率 | ?≥3℃/min | ||||||
| ?降溫速率 | ?≥1℃/min | ||||||
| 材質(zhì) | ?內(nèi)箱材質(zhì) | ?SUS304光亮不銹鋼板 | |||||
| ?外箱材質(zhì) | ?SUS304拉絲不銹鋼板或防銹處理冷扎鋼板 | ||||||
| ?保溫材質(zhì) | ?超細(xì)玻璃棉+聚胺脂泡沫 | ||||||
| 調(diào)節(jié)器 | ?制冷機(jī) | ?法國泰康(或半封閉德國谷輪)壓縮機(jī) | |||||
| ?制冷劑 | ?R23/R404A | ||||||
| ?冷凝方式 | ?風(fēng)冷 | ||||||
| ?加熱器 | ?鎳鉻合金不銹管加熱器 | ||||||
| ?氣流方式 | ?寬帶式強(qiáng)迫氣流循環(huán)(上出下進(jìn)) | ||||||
| 控制器 | ?操作界面 | ?液晶觸摸顯示屏,中英文切換(韓國TEMI880) | |||||
| ?運(yùn)轉(zhuǎn)方式 | ?恒定運(yùn)轉(zhuǎn),程序運(yùn)轉(zhuǎn) | ||||||
| ?程序記憶容量 | ?120組可編程序,每個(gè)程序999段 | ||||||
| ?分辯率 | ?溫度:0.1℃;濕度:0.1%RH | ||||||
| ?通訊功能 | ?RS-232接口 | ||||||
| ?附屬功能 | ?上下限報(bào)警,自診斷,報(bào)警顯示(故障原因),定時(shí)裝置(自動(dòng)開關(guān)機(jī)) | ||||||
| ?標(biāo) 準(zhǔn) 配 置 | ?觀察窗1個(gè),測試孔1個(gè),樣品架2層,熒光燈一個(gè),供水箱1個(gè) | ||||||
| ?安 全 裝 置 | ?無熔絲開關(guān),防干燒裝置,水系統(tǒng)保護(hù)裝置,極限高低溫保護(hù),溫度偏差報(bào)警,超壓,過載,缺水,缺相等保護(hù) | ||||||
| ?電 源 配 置 | ?220V/380V 60/50Hz | ||||||
半導(dǎo)體恒溫恒濕試驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T2423.1-2008 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法；
GB/T10589-2008? 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB/T2423.2-2008 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法
GB/T11158-2008? 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB/T2423.3-2006 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)方法；
GB/T10586-2006? 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB/T2423.4-2008 試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法；
GB/T10592-2008? 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB/T2423.22-2002試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法；
GJB150.3 高溫試驗(yàn)；
GJB150.4 低溫試驗(yàn)；
GJB150.9 濕熱試驗(yàn)；
IEC60068-2-1：2007 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法；
IEC60068-2-2：2007 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法；
IEC68-2-1 試驗(yàn)A：寒冷；
IEC68-2-2 試驗(yàn)B：干熱；
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